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    高靈敏度光譜儀適用于熒光測量

    更新時(shí)間:2022-07-06點(diǎn)擊次數(shù):1330
      高靈敏度光譜儀適用于熒光測量、DNA測序、拉曼分析等領(lǐng)域的光譜分析和檢測,針對弱光環(huán)境。它是一種科學(xué)光譜儀,常用于熒光測量、DNA測序、拉曼分析等應(yīng)用領(lǐng)域。具有高量子效率,其堅(jiān)固的設(shè)計(jì)使其具有高信噪比性能和穩(wěn)定性,可以通過選擇內(nèi)部快門來優(yōu)化暗噪聲的測量,可實(shí)現(xiàn)微光檢測,減少光譜誤差。具有重金屬痕量檢測能力,快速基本參數(shù)法提高了元素的準(zhǔn)確定量水平。兩項(xiàng)核心技術(shù)的結(jié)合為XRF元素檢測帶來了新的應(yīng)用前景。
      

    高靈敏度光譜儀

     

      1、采用雙曲面曲面晶體單色器優(yōu)化元素激發(fā)效率,降低X射線管的連續(xù)散射射線背景,提高元素?zé)晒馍渚€的信噪比。
      
      2、硅漂移探測器(SDD)是能量色散X射線熒光光譜儀的核心部件,其性能取決于晶體面積、窗口材料、計(jì)數(shù)率、分辨率等。
      
      3、高靈敏度光譜儀XRF分析的難點(diǎn)在于元素的熒光強(qiáng)度不僅與樣品中元素的含量有關(guān),還與其他元素的含量有關(guān),即所謂的基質(zhì)吸收增強(qiáng)效應(yīng)。這種物理效應(yīng)使得選擇合適的標(biāo)準(zhǔn)樣品變得困難。如果選擇的標(biāo)準(zhǔn)樣品基質(zhì)不一致,不能覆蓋待測樣品中各元素的含量范圍,會給實(shí)際樣品分析帶來誤差。基本參數(shù)法通過計(jì)算從X射線熒光光譜產(chǎn)生到檢測的各個(gè)環(huán)節(jié),建立相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型?;緟?shù)法消除了因不同類型樣品的基體差異而引起的背景差異,減少了分析誤差,通過少量標(biāo)準(zhǔn)樣品的校正,獲得了更準(zhǔn)確的元素定量結(jié)果。
      
      4、優(yōu)化鎘的檢測能力。鎘是一種有毒的重金屬,在環(huán)境保護(hù)和食品安全領(lǐng)域備受關(guān)注。常規(guī)XRF對鎘的影響很小(kα:23.1kev)是激發(fā)和檢測的挑戰(zhàn)。通過鎘的單色聚焦激發(fā),高靈敏度光譜儀對鎘的檢出限達(dá)到0.06mg/kg。

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